Microscop de forță atomică

În zilele noastre, Microscop de forță atomică a devenit un subiect de mare relevanță și interes pentru un public larg. De ani de zile, Microscop de forță atomică a stârnit dezbateri, cercetări și reflecții în diferite domenii, inclusiv politică, societate, cultură și știință. Impactul său a fost atât de semnificativ încât și-a pus amprenta asupra istoriei, marcând un înainte și un după în modul în care abordăm anumite aspecte ale vieții noastre de zi cu zi. În acest articol, vom explora în detaliu semnificația și importanța lui Microscop de forță atomică, analizând influența acestuia asupra diferitelor aspecte ale realității noastre și relevanța sa în contextul actual.

Schema de funcționare a unui AFM

Microscopul de forță atomică (AFM, din engleză Atomic force microscopy) este un tip de microscop cu rezoluție foarte înaltă, sub un nanometru.[1] Informația este preluată ca urmare a „atingerii” probei cu un element mecanic, precum piezoelectric. AFM permite determinarea proprietăților topografice, magnetice, chimice, optice și mecanice de la suprafața unei probe în aer, lichide sau la vid ultra-înalt.[2]

Note

  1. ^ „Measuring and Analyzing Force-Distance Curves with Atomic Force Microscopy” (PDF). afmworkshop.com. 
  2. ^ „What is AFM? Learn about Atomic Force Microscopy!”, Nanoandmore.com, accesat în  

Vezi și